Testovací objímka SMD TO263

590 690 

Zrušit výběr
Katalogové číslo: - Kategorie: Štítek:
ID: 3277     Poslední změna:  19.7.2023

Testovací patice/sokl/objímka (véčko) s nulovou zasouvací silou pro SMD součástky (tranzistory, stabilizátory, integrované obvody) v pouzdrech TO-263.

Provedení Popis
A Jen samotný sokl/patice/objímka, vývody pro desku plošných spojů, pro vlastní konstrukci přípravku
B Sokl/patice/objímka na dvoupatrové desce plošných spojů – piny ve dvou řadách (DIP/DIL) do programátoru
Typ Rozteč pinů Rozměr brouka
Test socket TO263-3 2.54 mm 10.4 × 15.24 mm
Test socket TO263-5 1.7 mm 8.4 × 15.3 mm
Test socket TO263-7 1.27 mm 8.9 × 15.2 mm

Dostupnost

Běžně v České republice nesehnatelné. Skladem máme sporadicky kusová množství od varianty.

Fotogalerie

Test Socket TO 263-5
Test Socket TO263-5 – provedení A
Socket TO263-7 komplet
Test Socket TO263-7 – provedení B
Test Socket TO263-7 pin
Test Socket TO263-7 – provedení B (pohled zdola)
TO263-7
TO263-7

Další informace

Pin

 3 pin,  5 pin,  7 pin

Provedení

A, B