Testovací patice/sokl/objímka (véčko) s nulovou zasouvací silou pro SMD součástky (tranzistory, stabilizátory, integrované obvody) v pouzdrech TO-263.
| Provedení | Popis |
|---|---|
| A | Jen samotný sokl/patice/objímka, vývody pro desku plošných spojů, pro vlastní konstrukci přípravku |
| B | Sokl/patice/objímka na dvoupatrové desce plošných spojů – piny ve dvou řadách (DIP/DIL) do programátoru |
| Typ | Rozteč pinů | Rozměr brouka |
|---|---|---|
| Test socket TO263-3 | 2.54 mm | 10.4 × 15.24 mm |
| Test socket TO263-5 | 1.7 mm | 8.4 × 15.3 mm |
| Test socket TO263-7 | 1.27 mm | 8.9 × 15.2 mm |
Dostupnost
Běžně v České republice nesehnatelné. Skladem máme sporadicky kusová množství od varianty.
Fotogalerie
